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  • X射線衍射儀(XRD)

    衍射儀 CT-半導體元器件 X射線顯微鏡
  • 三維X射線顯微鏡(XRM)

    粉末衍射儀 高分辨率CT X射線全自動化單晶定向儀 SKYSCAN 2214 CMOS版 D8 X射線衍射儀
  • 表面分析

    俄歇電子能譜儀 飛行時間二次離子質譜儀 X射線光電子能譜儀 離子源系統
  • 釋光測試儀

  • 少子壽命測試儀(MDP)

    MDpicts pro 原位變溫缺陷能級表征系統 MD picts溫度依賴型壽命測試系統 HT picts高溫少子壽命測量系統 MDPpro 850+ 單晶和多晶硅片壽命測量儀(MDPmap) MDPlinescan少子壽命測試儀 MDPspot少子壽命測試儀
  • 電池片PID測試儀

    PID操作軟件 便攜式現場PID測試儀 雙面電池PID測試儀
  • X射線顯微CT

  • 通用儀器/耗材

    有機元素分析儀 TOC總有機碳分析儀
  • 配件耗材

  • 同位素質譜儀

  • 定氮儀、杜馬斯定氮儀

  • ESR

  • 電子順磁共振波譜儀

  • 智能化XRD分析軟件

  • 激光拉曼光譜儀

  • 熒光光譜儀

  • PDF卡片

  • 國際衍射數據中心JADE軟件

  • 電子自旋共振波譜儀

  • 核磁共振(NMR)

  • 半導體專用檢測儀器設備

    RESmap 低電阻率測試儀 XRD
  • X射線輻射儀

    臺式X射線輻射儀
  • 自動化定向檢測系統

    自動化晶圓定向檢測系統 晶錠自動化單晶定向系統 自動化碳化硅晶錠粘接定向儀
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  • X4 Poseidon新型臺式三維X射線顯微鏡
    新型臺式三維X射線顯微鏡

    型號:X4 Poseidon

  • D6 Phaser多功能桌面式(臺式)衍射系統
    多功能桌面式(臺式)衍射系統

    型號:D6 Phaser

  • D8X射線衍射儀
    X射線衍射儀

    型號:D8

  • SKYSCAN 2214 CMOS版三維X射線顯微鏡 (XRM)SKYSCAN 2214
    三維X射線顯微鏡 (XRM)SKYSCAN 2214

    型號:SKYSCAN 2214 CMOS版

  • DPM100雙棱鏡超寬連續光譜單色儀
    雙棱鏡超寬連續光譜單色儀

    型號:DPM100

  • Skyscan1273微納米ct-高分辨率X射線三維成像系統|束蘊儀器出品
    微納米ct-高分辨率X射線三維成像系統|束蘊儀器出品

    型號:Skyscan1273

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束蘊儀器(上海)有限公司

束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、國際衍射數據中心(ICDD)、德國Freiberg等國際實驗室分析儀器品牌的戰略合作,迅速成為業界儀器供應商。我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術能為我們的客戶帶來質量較高的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。束蘊儀器為各類客戶提供*的實驗室和工業檢測儀器及過程控制設備,專業的應用支持及*的售后服務,在中國大陸的諸多領域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天、國家機關、檢驗機構及工業企...

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技術文章

進一步提高公司的技術、質量和服務

  • 技術文章 2026-06-24
    選購低電阻率測試儀只看量程?警惕測試電流、探針壓力與溫度補償的3個隱形陷阱

    在半導體晶圓、鋰電池極片或精密合金材料的質檢環節,低電阻率測試儀是關鍵設備。很多采購人員在選型時,第一眼往往只盯著參數表中的“最小量程”,認為能測到毫歐甚至微歐級別就是好儀器。然而,低電阻測試是一門極易受干擾的精密藝術。量程只是“視力”,而抗干擾能力才是“視力矯正”。如果忽視了測試電流、探針壓力和溫度補償這三個隱形陷阱,測出來的數據往往只是“數字游戲”,根本無法反映材料的真實性能。陷阱一:測試電流為了測準低電阻,儀器通常會輸出一個大電流(如1A、10A甚至更高),利用歐姆定律...

  • 技術文章 2026-06-21
    晶圓片在線面掃檢測儀——半導體良率管控的“全幅快照官”

    在集成電路制造流程中,晶圓表面哪怕微米級的劃傷、顆粒污染或薄膜缺陷,都可能導致芯片電路斷路或短路,造成良率損失。晶圓片在線面掃檢測儀正是針對這一痛點設計的自動化光學檢測設備。它摒棄了傳統的逐點掃描模式,采用高分辨率面陣相機與精密運動平臺協同工作,對晶圓表面進行高速的“全景拍照”,是半導體前道制程中保障工藝穩定性和提升良率的關鍵防線。晶圓片在線面掃檢測儀的核心技術在于“高速成像”與“智能識別”的結合。設備通常集成在晶圓傳輸系統(EFEM)中,實現全自動化上下料。檢測時,晶圓被吸...

  • 技術文章 2026-06-17
    在線X射線衍射儀選型與使用建議

    在新能源電池、制藥結晶及先進陶瓷生產中,晶型(晶相)直接決定產品的純度、活性、穩定性與電化學性能。傳統離線XRD(X射線衍射儀)需人工取樣、制樣、送入實驗室等待結果,耗時數小時,無法捕捉結晶過程的瞬時變化,難以及時干預工藝偏差。在線X射線衍射儀通過原位、無損、連續的衍射數據采集,像一雙“透視眼”實時監測反應器內物相演變,為工業結晶工藝優化、晶型轉化控制及連續流生產提供秒級反饋。工作原理與技術特點在線XRD基于布拉格衍射定律(nλ=2dsinθ):高能X射線穿透反應器視窗照射樣...

  • 技術文章 2026-06-09
    晶體結構‘透視眼’:xrd衍射系統在鋰電正極材料研發中的關鍵作用

    在鋰離子電池技術飛速迭代的今天,能量密度、循環壽命與安全性已成為行業競爭的核心焦點。作為電池的“心臟”,正極材料的微觀晶體結構決定了鋰離子的脫嵌效率與傳輸通道。而在探索材料微觀世界的征程中,X射線衍射(XRD)系統憑借其原子級的分辨能力,成為了鋰電研發實驗室的“透視眼”。正極材料(如三元NCM、磷酸鐵鋰LFP、鈷酸鋰LCO等)的性能衰減,往往始于微觀結構的演變。XRD系統通過發射X射線穿透材料,捕捉原子排列產生的衍射信號,從而精準解析材料的晶體結構。在研發環節,XRD發揮著三...

  • 技術文章 2026-06-04
    晶圓片晶錠壽命檢測儀——預判硅片質量的“壽命預言家”

    在半導體產業鏈的上游,單晶硅錠的質量直接決定了后續切割出的硅片的電學性能和最終芯片的可靠性。少數載流子壽命是衡量硅錠晶體質量和雜質含量的核心參數,它反映了硅材料中非平衡少數載流子從產生到復合的平均生存時間。壽命越長,表明硅材料純度越高、晶體缺陷越少。晶圓片晶錠壽命檢測儀利用微波光電導衰退(μ-PCD)技術,無需接觸樣品即可快速、無損地測量晶錠或硅片的壽命分布,是硅片制造商把控原材料質量、優化拉晶工藝的“壽命預言家”。晶圓片晶錠壽命檢測儀的工作原理基于微波光電導衰退技術。設備發...

  • 技術文章 2026-06-03
    少子壽命測試儀有哪些品牌值得推薦?束蘊儀器綜合實力解析

    一、市場行情與行業現狀分析隨著光伏產業向N型TOPCon、HJT及IBC等高效率電池技術迭代,以及半導體級硅單晶對體少子壽命(BulkMinorityCarrierLifetime,MCLT)要求的不斷提高,少子壽命測試儀已成為硅片來料檢驗、擴散/鈍化工藝監控及晶錠質量篩查的關鍵設備。目前國內市場主要供給分為三類:歐美品牌:基于μ-PCD或QSSPC原理,精度高但價格昂貴、貨期長,售后維修周期通常需數月;國產新興品牌:性價比有優勢,但在高頻微波檢測靈敏度、掃描分辨率及與自動化...

  • 技術文章 2026-06-03
    還在糾結X射線單晶定向儀哪個品牌好?這份來自束蘊儀器的選型指南請收好

    一、市場行情與行業現狀分析隨著第三代半導體(SiC、GaN)、人工晶體(藍寶石、石英)及壓電材料產業的快速發展,X射線單晶定向儀已成為晶體切割、研磨與器件制備前的精密檢測設備。當前國內市場主流供給分為三類:一是德、日等傳統進口品牌(精度高但價格昂貴、交期長);二是國產新興品牌(性價比好但精度與軟件體驗參差不齊);三是與國際品牌深度合作的本土化服務商——將進口設備品質與本地快速響應服務相結合的"優選代理模式"正逐漸成為科研院所與晶體加工企業的選擇。選購時需重點關注四大核心指標:...

  • 技術文章 2026-05-28
    Lexsyg系統助力考古新發現:揭秘加拿大圣勞倫斯易洛魁人消失村落

    Lexsyg釋光探測器|在考古測年領域應用分享Lexsyg系統助力考古新發現:揭秘加拿大圣勞倫斯易洛魁人消失村落文章來源:https://doi.org/10.1016/j.quageo.2015.01.010引言:解釋消失文明的年代之謎在加拿大魁北克南部的圣亞尼森特地區,圣勞倫斯易洛魁人曾建立過一系列半久性村落,卻在16世紀突然消失。Mailhot-Curran遺址被認為是該族群消失的聚居地之一,但其確切年代因放射性碳測年的“大氣碳生產平臺期”問題而難以精確判定。近期,一項...

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